FT-GC10植物冠層分析儀可以(yi)(yi)用來分析(xi)(xi)植物(wu)對光能(neng)的(de)(de)(de)利用率情(qing)況是(shi)怎么樣的(de)(de)(de)，由此可以(yi)(yi)探(tan)查植物(wu)的(de)(de)(de)具(ju)體生長情(qing)況是(shi)在什么樣的(de)(de)(de)，可以(yi)(yi)對植物(wu)的(de)(de)(de)枝葉之間的(de)(de)(de)疏(shu)密(mi)程度(du)以(yi)(yi)及(ji)錯(cuo)落情(qing)況進行(xing)分析(xi)(xi)，以(yi)(yi)便于讓植物(wu)能(neng)生長的(de)(de)(de)更好。

　　大家都知道，植物(wu)的(de)(de)(de)葉(xie)子是(shi)(shi)(shi)進行(xing)光(guang)合(he)(he)作(zuo)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)重要(yao)部分，因為(wei)(wei)葉(xie)子里有葉(xie)綠素，但(dan)是(shi)(shi)(shi)進行(xing)光(guang)合(he)(he)作(zuo)用(yong)(yong)也(ye)需要(yao)葉(xie)子能夠(gou)接(jie)觸(chu)到陽光(guang)才可以，如果葉(xie)子之(zhi)間的(de)(de)(de)縫隙過(guo)于(yu)茂密，那(nei)么(me)藏在(zai)里面(mian)的(de)(de)(de)葉(xie)子無法(fa)接(jie)觸(chu)到陽光(guang)，就無法(fa)進行(xing)光(guang)合(he)(he)作(zuo)用(yong)(yong)，只進行(xing)呼吸作(zuo)用(yong)(yong)和蒸騰作(zuo)用(yong)(yong)，反而加重了(le)植株(zhu)的(de)(de)(de)負擔，對(dui)生長并沒(mei)有好處，所以對(dui)植物(wu)冠層進行(xing)分析(xi)的(de)(de)(de)重要(yao)意義就在(zai)于(yu)分析(xi)葉(xie)子對(dui)光(guang)能的(de)(de)(de)利用(yong)(yong)情況，是(shi)(shi)(shi)否都能夠(gou)為(wei)(wei)植物(wu)的(de)(de)(de)生長提供有效的(de)(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)，這也(ye)是(shi)(shi)(shi)為(wei)(wei)什么(me)我們需要(yao)定期給(gei)植株(zhu)修建(jian)枝(zhi)葉(xie)的(de)(de)(de)原因。

　　FT-GC10植物冠層分析(xi)儀(yi)為(wei)一(yi)體化設計，包括液晶顯示屏、操作(zuo)按(an)鍵、存儲SD卡及測(ce)量(liang)探桿等。儀(yi)器(qi)菜單操作(zuo)簡(jian)單，體積小，攜帶方(fang)便。存儲介質(zhi)為(wei)市場(chang)上通用的SD卡，存儲容量(liang)大，數據(ju)管理方(fang)便!在功耗上有(you)合理的電源管理方(fang)案，測(ce)試過程中儀(yi)器(qi)根(gen)據(ju)實際(ji)情況(kuang)自(zi)(zi)動(dong)(dong)進入(ru)待(dai)機(ji)狀態，需要時(shi)按(an)喚醒(xing)(xing)鍵即(ji)可喚醒(xing)(xing)屏幕，觀察(cha)實際(ji)數據(ju)。測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)分為(wei)自(zi)(zi)動(dong)(dong)和手(shou)(shou)動(dong)(dong)兩種(zhong)。自(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)量(liang)時(shi)間間隔(ge)最小1分鐘，自(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)量(liang)次數最大99次，手(shou)(shou)動(dong)(dong)測(ce)量(liang)根(gen)據(ju)實際(ji)需要手(shou)(shou)動(dong)(dong)采集即(ji)可。

　　植(zhi)(zhi)物(wu)的(de)(de)(de)(de)冠(guan)層分析(xi)在(zai)(zai)生產和研(yan)究(jiu) 中有(you)著很廣(guang)泛的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong) ，直接的(de)(de)(de)(de)方(fang)法就(jiu)是(shi)全株收(shou)獲法，但由于其(qi)工作量過(guo)大(da)和對植(zhi)(zhi)物(wu)會造成(cheng)破壞的(de)(de)(de)(de)原因 ，實際(ji)應(ying)用(yong)中存在(zai)(zai)局限性。盡(jin)管植(zhi)(zhi)物(wu)收(shou)獲后普(pu)遍(bian)采用(yong) 掃(sao)描儀掃(sao)描方(fang)式提高 了工作效(xiao)率引，但每片葉(xie)子的(de)(de)(de)(de)掃(sao)描過(guo)程仍(reng) 較(jiao)繁瑣。植(zhi)(zhi)物(wu)冠(guan)層測定(ding)儀可廣(guang)泛應(ying)用(yong)于農(nong)業(ye)生產和農(nong)業(ye)科研(yan)，為進行冠(guan)層光(guang)能(neng)資源調查，測量植(zhi)(zhi)物(wu)冠(guan)層中光(guang)線的(de)(de)(de)(de)攔截，研(yan)究(jiu)作物(wu)的(de)(de)(de)(de)生長發育、產量品質與光(guang)能(neng)利用(yong)間(jian)的(de)(de)(de)(de)關系，本儀器用(yong)于400nm-700nm波段內的(de)(de)(de)(de)光(guang)合有(you)效(xiao)輻射(PAR)測量、記錄,測量值的(de)(de)(de)(de)單位是(shi)平方(fang)米·秒(miao)上(shang)的(de)(de)(de)(de)微摩爾(er)(μmols㎡/秒(miao))。

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